Phenom MAPS 大麵積能譜拚接

多模態多維度地圖式圖像⾃動采集及拚接軟件

                   Phenom MAPS 作為⼀款多模態多維度地圖式圖像

⾃ 動 采 集 及 拚 接 軟 件 ， 可 ⾃ 動 獲 取 ⼤ 型 圖 像 數 據

集 ， 並直觀地組合和關聯多種成像 、 分析模式 ， 從

⽽提供多尺度和多模態的表征數據。

該軟件⽀持 Phenom 全係列台式掃描電⼦顯微鏡型

號 ， 包 括 Phenom XL G2 、 Phenom Pharos G2

和 Phenom ProX。 歡迎聯係午夜国产视频升級體驗。

MAPS 核⼼功能

Phenom MAPS 大麵積能譜拚接提供：

  ⼤⾯積⾃動數據采集： 實現⾃動化⽆縫全景拚圖和⼤⾯積 EDS 能譜數據采集

  CISA 多平台數據關聯： 光鏡、 拉曼、紅外、XPS ，甚⾄ CAD 或⼿繪草圖 ，通通可以關聯   多尺度成像⾃動化： 軟件提供全⾃動的⾼質量、 多尺度成像解決⽅案

  跨平台設備連接： 不同設備之間可以進⾏以樣品為中⼼的數據關聯處理⼯作

  離線數據數據管理： MAPS 軟件的離線版本⽅便您隨時進⾏數據處理並規劃下⼀次成像⼯作

⾃動數據采集

⽤⼾可以在各種樣本上設置和運⾏多個圖塊集 ， 實現⾃動化 、 ⽆⼈值守的儀器作業 ， 優化設 備操作時間 ， 獲取⾼質量數據。

⾃動數據采集技術讓您⽆需花費數⼩時搜索感興趣的區域 ， 可以快速輕鬆拍攝⼤⾯積拚圖的 同時還能夠⾃動收集選定區域的⾼分辨率數據。

此外 ， Phenom MAPS 軟件的離線功能可以幫 您 將 數 據 從 設 備 中 導 出 並 在 任 意 ⼀ 台 PC 中 隨 時進⾏數據分析。 您可以在 MAPS 軟件中標注 數據並選擇新的區域進⾏數據采集 。 該軟件還 可以進⾏多個數據集的⼤視野圖像⾃動拚接和 導出 ， 提供多種拚接算法和導出選項 ， 可以導 出 RAW、tile TIFF 或 HD 視圖的兼容格式。

應⽤ SEM-EDS 互聯功能進⾏材料表征

與傳統技術相⽐ ， Phenom MAPS 軟件可以幫助您更快地獲取低倍率 、 ⼤⾯積的 EDS 能譜 圖 ， 從⽽直觀地顯⽰整個樣品中的元素分布。（以礦物樣品分析為例）

圖2 . MAPS ⼤⾯積能譜拚圖結果

數據收集後 ，通過 Phenom MAPS 軟件進⾏進⼀步 的定量 EDS 分析。

圖3 . ⽀持離線數據處理： 將 EDS 數據導⼊ Phenom 台式掃描電鏡的 UI 中

MAPS CISA 多平台數據關聯

光鏡、 拉曼、 紅外、XPS ， 甚⾄ CAD 或⼿繪草圖 ， 通通可以關聯。

下圖案例： 通過 MAPS CISA ， 將 SEM 和 XPS ⾯分布以及全譜分析的功能相結合 ， 分析多孔 砂粒⼦的表⾯組成和形貌。

通 過 結 合 XPS 和 SEM 的 分 析 ， 可 以 精 確 地 將 化 學 信 息 與 顯微 鏡 提 供 的 ⾼ 分 辨 率 結 構 信 息 融合 。 CISA 關聯⼯作流程尤其適⽤於研究電池 、 ⾼分⼦材料 、 催化劑和⾦屬等樣品的材料 研究。

應 ⽤ 案例： 使 ⽤  Phenom MAPS 軟件 分析 傷⼝敷料中銀的分布

含 銀 的傷 ⼝ 敷 料 是 ⼀ 種 先 進 的 愈 合 技 術 ， 利 ⽤ 銀 的 抗 菌 特 性 來 預防感染。 

這 些 敷 料 由 包 括 傷 ⼝ 墊 的 多 層 組 成 ， 傷 ⼝ 墊 含 有 銀 ， 由 吸 收 液 體 的 ⽆ 紡 布 聚 合 物 纖 維 製 成 。 這 些 纖 維 通 過 聚 ⼄ 烯 ⽹ 膜與傷⼝隔開 ， 防⽌傷⼝墊粘在傷⼝上。

此類敷料的有效性取決於銀的物理和化學特性以及銀在敷 料 中 的 分 布 情 況 。 如 果 銀 離 ⼦ 濃 度 過 ⾼ ， 則 離 ⼦ 可 能 會 從 敷料中釋放出來並導致細胞毒性作⽤ 。

5 . 含銀的傷⼝墊可防⽌感染

利⽤⻜納台式掃描電鏡的 MAPS 軟件可以創建⾼分辨率 EDS 圖 ， 顯⽰銀在傷⼝敷料中的 分 布 情 況 。 如 下 圖 所 ⽰ ， 銀 （以 粉 紅 ⾊ 顯 ⽰ ） 排 列 在 聚 ⼄ 烯 ⽹ 的 邊 緣 。 這 可 以 表 征 敷 料 的質量及其與銀離⼦控製釋放的關係。

圖6 . ⽆縫全景拚圖： ⼤⾯積 SEM 傷⼝敷料拚圖穿孔 ⽹膜後⾯是聚合物纖維圖7 . ⼩⾯積 EDS 圖與 MAPS 軟件中⼤⾯積敷料能 譜拚圖 ，粉⾊顯⽰了銀的分布